電壓擊穿試驗(yàn)相關(guān)定義

電擊穿

測(cè)試試樣在接觸電應(yīng)力時(shí)，絕緣性能的嚴(yán)重?fù)p失，使測(cè)試電路中的電流運(yùn)行一個(gè)適當(dāng)?shù)臄嗦菲鳌?

注1：故障通常是由于試件周圍的氣體或液體介質(zhì)的局部放電造成的，電極在較小電極(或兩個(gè)電極，如果直徑相等的情況下)將試件刺穿。

閃絡(luò)

在測(cè)試試樣和電極接觸到電應(yīng)力時(shí)，氣體或液體介質(zhì)的絕緣性能損失，使測(cè)試電路中的電流運(yùn)行一個(gè)適當(dāng)?shù)臄嗦菲鳌?

注1：通過試樣的碳化通道或小孔的存在，區(qū)分出發(fā)生故障的測(cè)試，以及其他發(fā)生閃絡(luò)的地方。

擊穿電壓

電壓持續(xù)升高的試驗(yàn)

在規(guī)定的測(cè)試條件下，試件被擊穿的電壓。

連續(xù)測(cè)試：

最高電壓，在該電壓水平下，試件在沒有擊穿的情況下，能承受的最高電壓。

電氣強(qiáng)度：

擊穿電壓的值和在規(guī)定的試驗(yàn)條件下施加電壓的電極之間的距離。

注1：測(cè)試電極之間的距離確定為5.5，除非另有說明。

電壓擊穿試驗(yàn)的意義

根據(jù)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)獲得的電力強(qiáng)度測(cè)試結(jié)果，用于檢測(cè)因加工變量、老化、其他制造業(yè)或環(huán)境情況而產(chǎn)生的正常特性的變化或偏差，它們并不適用于評(píng)估實(shí)際應(yīng)用中絕緣材料的性能。

測(cè)量材料的電強(qiáng)度值可能受到許多因素的影響，包括:

a)試樣狀態(tài)

1)試件的厚度和均勻性以及機(jī)械應(yīng)變的存在;

2)以前對(duì)標(biāo)本的處理，特別是干燥和浸漬過程

3)氣體夾雜物、水分或其他污染的存在。

b)試驗(yàn)條件

1)電壓上升或時(shí)間的頻率、波形和頻率;

2)環(huán)境溫度、壓力、濕度;

3)測(cè)試電極的配置、尺寸和導(dǎo)熱系數(shù);

4)周圍介質(zhì)的電性和熱特性。

在檢測(cè)沒有測(cè)過的材料時(shí)，應(yīng)考慮所有這些因素的影響。該標(biāo)準(zhǔn)定義了特殊的條件，使材料之間快速的區(qū)分,并可用于質(zhì)量控制和類似的目的。不同方法給出的結(jié)果不能直接比較。

但可以提供有關(guān)材料相對(duì)強(qiáng)度的信息，隨著電極厚度的增加和電壓應(yīng)用時(shí)間的增加，大多數(shù)材料的強(qiáng)度都降低了。大多數(shù)材料的實(shí)測(cè)電勢(shì)在擊穿前的強(qiáng)度和表面放電的持續(xù)時(shí)間都有明顯的影響，對(duì)于部分沒有放電到測(cè)試電壓的設(shè)計(jì),在擊穿之前，要知道沒有放電的電強(qiáng)度是非常重要的，但是，相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中的方法通常不適合提供這些信息。

具有高強(qiáng)度的材料不一定能抵抗長(zhǎng)期的降解過程，如熱、侵蝕或化學(xué)劣化等部分放電，或在水分存在時(shí)電化學(xué)惡化，所有這些都可能導(dǎo)致在較低的壓力下服務(wù)失效。